二次核相儀是一種檢測核儀器，可以用來觀察有機、無機物質的原子結構和化學結構。它可以檢測核儀器投影片的有機及無機物質的原子拓撲和化學結構，用於分析材料的微觀結構。

　　二次核相儀由投影光學係統、掃描模塊和檢測器組成。投影光學係統由凸透鏡、衍射儀和投擲儀組成，用來從樣品中取出小尺寸的顯微小體，並將其顯示在投影儀上。然後，樣品傳送到掃描模塊，由檢測器檢測物質的原子拓撲和化學結構。

　　二次核相儀用於各種領域，比如礦物學和地質學，用於研究岩石的成因類型和結構；應用於化學和材料學，用於研究物質的化學成分和原子拓撲結構；在生物學中，用於研究細胞的形態和結構。

　　二次核相儀的使用方法主要是先在物質表麵上做出顯微區域樣本，然後同凸透鏡做成良好的平行光，再通過衍射儀將衍射圖投影到樣品上，這時候可以看到樣品投影片上的圖像。最後，再使用檢測器來測定樣品表麵物質的原子結構和化學結構。

　　使用二次核相儀測試樣品時，首先要針對樣品類型分別采用最合適的投影光學係統，包括投影儀、衍射儀和投擲儀，使樣品表麵的投影盡量顯示出來。

　　二次核相儀是一種先進的檢測技術，它可以對粒子擴散在核因素空間中的分布進行測量，並可以探測放射性物質。它最初是為了研究閃爍反應中的散射現象，並可以檢測具有不同質量的粒子的相位。它包括一個調諧器，一個探頭，一個橢圓鏡，一個放射源和一個核量計，它們均可以分離。

　　二次核相儀的主要功能是測量一定量的核，對量子狀態的粒子及其放射的空間分布進行分析。當一個流體粒子（如氣體）運動到調諧器中時，調諧器可以傳遞機械頻率調製信號，檢測調諧器中空間分布本質上就是檢測粒子在核因素空間中的分布。測量時，原子或分子會接收到探頭上發射的電磁能量，並傳遞出一定的角度和能量。在橢圓鏡上，用檢測模塊將空間分布的返回信號收集，然後提供給核量計，用以準確測量給定核粒子的能量和角度。探測到的數據分析將表現在檢測器的屏幕上，可以用圖形的形式展示出來。最後，結果將通過計算機處理，形成核粒子的反應空間分布，便於檢測者更深入的分析。

　　如果想要用二次核相儀檢測不同粒子，隻需調節調諧器，使其匹配放射源及核量計的頻率，即可獲得最佳探測性能。

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